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菲希爾XDL230熒光射線測厚儀信息
更新時間:2025-08-11   點擊次數:58次

作為一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光分析設備,菲希爾 XDL 230 集鍍層測厚、材料分析與溶液檢測功能于一體,憑借無損檢測技術,可精準測量各類鍍層厚度,并對材料及溶液成分進行分析。其適用場景覆蓋大規模生產零部件、印刷線路板等多種工件的鍍層檢測,為工業質量管控提供可靠支持。

核心應用領域

大規模生產電鍍部件的鍍層質量檢測

超薄鍍層(如裝飾鉻)的高精度厚度測量

電子及半導體工業中功能性鍍層的性能評估

印刷線路板鍍層的合規性驗證

電鍍溶液成分的快速分析與監控

性能優勢

長期穩定性突出:減少頻繁校準需求,降低維護成本,確保長期測量精度

高計數率設計:搭載比例接收器,提升測量效率與數據準確性,滿足高精度檢測要求

先進分析技術:采用 FISCHER 基本參數法,無需標準片即可完成鍍層系統、固體及液體樣品的測量與分析,簡化操作流程,拓展應用靈活性

菲希爾 XDL 230 以其精準、高效、穩定的性能,成為質量控制、進料檢驗及生產流程監控的理想選擇,助力企業提升產品質量與生產效率。


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